在原子吸收光譜光分析中，以
原子吸收氫化物發生器作為進樣和反應輸送系統，通過電熱石英原子化器與原子吸收光譜儀的光路對接，從而利用原子吸收光譜儀分析系統對元素進行含量測定的方法，統稱為氫化物發生-原子吸收光譜法。
氫化物發生-原子吸收光譜法主要針對As、Hg、Se、Te、Sb、Bi、Ge、Sn、Pb、Cd這幾種易形成氫化物的元素含量進行痕量分析，其中大部分元素用常規度火焰分析會有強烈的背景干擾，而用石墨爐分析則容易因其低沸點造成揮發損失。
氫化物發生與原子吸收光譜、原子熒光光譜、電感耦合等離子體(ICP)光源、ICP質譜等測定方法聯用是氫化元素痕量分析重要的方法。
原子吸收氫化物發生器的分析特性：
氫化物發生法因其待測元素形成的氫化物易于揮發，熱穩定性差（容易原子化）的特點，只需要將其通過惰性載氣（高純氬）導入電熱原子化器（900℃左右），再利用原子吸收光譜儀進行檢測即可。
相對原子吸收光譜火焰法或石墨爐法來說，氫化物發生-原子吸收光譜法具有更高的靈敏度（預富集性）、更少的元素干擾（預分離，干擾元素難以形成氫化物共存）和更低的背景干擾（石英原子化器氬氣屏蔽環境，溫度低發射少）。
但是，干擾少不等于沒有干擾，其中有的干擾嚴重時甚至會導致沒有檢測靈敏度，所以有必要了解和解決干擾來源。
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